正夫人47系列电磁炉烧熔断器故障检修案例

    故障分析：电流容量为15A的熔断器一般自然烧断的概率极低。通常是通过了较大的电流才烧，所以发现烧熔断器故障必须在换入新的熔断器后对电源负载作检查。通常大电流的零件损坏会使熔断器作保护性熔断，而大电流零件损坏除了零件老化原因外，大部分是因为控制电路不良所致，特别是IGBT，所以换人新的大电流零件后除了按1．中主板检测方法对电路作常规检查外，还需对其他可能损坏该零件的保护电路作彻底检查，IGBT损坏主要有过电流击穿和过电压击穿，而同步电路、振荡电路、IGBT激励电路、浪涌电压监测电路、VCE检测电路、主电路不良和单片机(CPU)死机等都可能是造成烧机的原因，以下是有关这种故障的案例：

    ①换入新的熔断器后，首先对主电路作检查，发现整流桥BG1、IGBT击穿，更换零件后按1．中主板检测方法测试发现+18V电压偏低，按2．中主板测试不合格的对策第③项方法检查，结果为Q4击穿使+18V电压偏低，换人新零件后荐按主板检测方法测试至第⑨步骤时发现V4为0V，按2．中主板测试不合格的对策第⑨项方法检查，结果原因为R1开路，换入新零件后测试一切正常。

    结论：由于R1开路，造成加到IGBT的G极上的开关脉冲前沿与IGBT上产生的VCE脉冲后沿相不同步而使IGBT瞬间过电流而击穿，IGBT上产生的高压同时亦使Q1、Q4击穿，由于IGBT击穿电流增大，在熔断器未熔断前整流桥BG1也因过电流而损坏。

    ②换入新的熔断器后首先对主电路作检查，发现整流桥BG1、IGBT击穿，更换零件后按1．中主板检测方法测试发现+18V电压偏低，按2．中主板测试不合格的对策第③项方法检查，结果为Q1、Q4击穿使+18V偏低，换入新零件后再按主板检测方法测试至第⑥步骤时发现Q2基极电压偏低，按2．中主板测试不合格的对策第⑥项方法检查，结果原因为R26阻值变大，换入新零件后测试一切正常。

    结论：由于R26阻值变大，造成加到Q2基极的VCE取样电压降低，发射极上的电压也随着降低，当VCE升高至设计规定的抑制电压时，CPU实际监测到的VCE取样电压没有达到起控值，CPU不做出抑制动作，结果VCE电压继续上升，最终击穿IGBT。IGBT上产生的高压同时亦使Q1、Q4击穿，由于IGBT击穿电流增大，在熔断器未熔断前整流桥DB也因过电流而损坏。

    ③换入新的熔断器后首先对主电路作检查，发现整流桥IGBT击穿，更换零件后按1．中主板检测方法测试，上电时蜂鸣器没有发出“B”一声，按2．中主板测试不合格的对策第①项方法检查，结果为晶振X1不良，更换后一切正常。

    结论：由于晶振X1损坏，导致CPU内部不能运转，上电时CPU各端口的状态是不确定的，假如CPU的⑩、⑰脚输出为高，会使振荡电路输出一直流使IGBT过电流而击穿。本案例的主要原因为晶振X1不良导致CPU死机而损坏IGBT。